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JESD51-14 标准详细解读

标准全称：
JEDEC JESD51-14
Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of the Thermal Resistance Junction-to-Case of Semiconductor Devices with Heat Flow Through a Single Path

这是目前测量功率半导体器件结到壳热阻（RthJC）的最权威国际标准，发布于 JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）。

1. 标准背景与目的

传统热阻测量方法容易受到壳温测量位置误差和壳-散热器接触热阻的影响，导致结果不准确。
JESD51-14提出瞬态双界面法（Transient Dual Interface Method），结合结构函数分析，能够有效分离器件内部热阻与外部接触热阻，实现高精度、非破坏性的 RthJC 测量。

2. 核心原理（双界面法）

通过两次仅改变外部界面条