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1. 从标题拆解这个动手实验到底在做什么

1.1 标题里的三个关键词：课程、TI-ADC、系统功率缩放

看到“【课程-TI-ADC】动手实验：系统功率缩放”这个标题，我第一反应是：这是一节嵌入式系统课程里的实验环节，核心围绕TI的ADC芯片展开，而实验主题是系统功率缩放。拆开来看，“TI-ADC”大概率指的是德州仪器（Texas Instruments）的模数转换器系列，比如常见的ADS系列或者MSP430内部集成的ADC模块；“系统功率缩放”则是指通过调整系统的工作参数（时钟频率、采样率、供电电压、工作模式等），来观察功耗的变化规律，最终找到性能与功耗之间的平衡点。

这个实验的受众很明确：正在学习嵌入式系统、低功耗设计、或者信号采集相关课程的学生和工程师。它解决的核心问题是——很多人做ADC采集时只关心精度和速度，却忽略了功耗这个在实际产品中极其关键的指标。尤其是电池供电的便携设备、物联网传感器节点、可穿戴设备，功耗直接决定了续航和产品竞争力。

我当年第一次接触这类实验时，最大的困惑就是：为什么同样的ADC，别人跑出来功耗那么低，我跑出来却高得离谱？后来才发现，问题出在对“功率缩放”这个概念的理解上——它不是简单地降频或者关掉外设，而是需要系统性地理解时钟树、电源域、工作模式之间的联动关系。

1.2 这个实验适合谁来动手

如果你属于以下几类人，这个实验值得你花时间认真做一遍：

• 嵌入式初学者：正在学单片机或DSP，想搞明白ADC到底怎么用，功耗到底怎么算。
• 低功耗产品开发者：做电池供电设备，需要精确控制系统功耗，延长续航。
• 信号采集工程师：需要在高采样率和低功耗之间做取舍，想知道不同配置下的实际表现。
• 课程学习者：老师布置了这个实验，但你不想只是照着PPT抄一遍，想真正理解背后的原理。

这个实验的门槛不算高，但也不低。你需要有基本的C语言基础，了解单片机的基本外设操作（GPIO、定时器、时钟配置），最好还用过示波器或功率分析仪。如果没有硬件条件，也可以用仿真工具先跑一遍逻辑，但功耗数据必须实测才准。

1.3 实验的核心目标：不只是“跑通”，而是“跑明白”

很多同学做实验的习惯是：照着实验指导书一步步操作，最后看到串口打印出数据，就算完成了。但这个实验如果只做到这一步，基本等于白做。它的真正价值在于——你要能回答出“为什么功耗是这个值”以及“如果我要再降一半，该动哪里”。

具体来说，实验结束后你应该能回答：

• 系统功耗主要由哪几部分组成？
• ADC的采样率、分辨率、时钟源分别如何影响功耗？
• 降低系统时钟频率对ADC精度有什么副作用？
• 在保持采样率不变的前提下，有哪些手段可以降低功耗？
• 实测功耗和理论计算之间的差距来自哪里？

这些问题，才是这个实验真正想让你掌握的。

2. 系统功率缩放的核心原理与设计思路

2.1 功率缩放到底在缩放什么

“功率缩放”（Power Scaling）这个词听起来有点抽象，其实拆开看就很好理解。一个嵌入式系统的功耗可以粗略分为两部分：动态功耗和静态功耗。

动态功耗的公式是：

P_dynamic = C × V² × f

其中C是负载电容，V是供电电压，f是开关频率。这个公式告诉我们，动态功耗和电压的平方成正比，和频率成正比。所以降低电压比降低频率对功耗的影响更大——电压降一半，动态功耗直接降到四分之一。

静态功耗则主要来自漏电流，公式是：

P_static = V × I_leakage

漏电流和工艺、温度、电压都有关。在先进工艺节点下，静态功耗的占比会越来越高，但在大多数教学实验用的MCU上，动态功耗仍然是主要部分。

“系统功率缩放”就是通过调整V和f，以及切换不同的工作模式（比如从主动模式切到低功耗模式），来观察功耗的变化。ADC作为系统中的一个外设，它的功耗既包括自身的工作电流，也包括它给系统带来的额外负载（比如时钟树的分频、参考电压的建立时间等）。

2.2 为什么选ADC作为实验对象

ADC是嵌入式系统里非常典型的一个外设：它有时钟需求、有模拟部分、有数字部分、有参考电压、有采样保持电路。它的功耗特性比GPIO复杂得多，但又不像射频模块那么难测量。用它来做功率缩放实验，既能覆盖多个知识点，又不会让初学者无从下手。

具体来说，ADC的功耗受以下几个因素影响：

• 采样率：采样率越高，内部开关电容阵列的充放电频率越高，动态功耗越大。
• 分辨率：12位和8位模式下，内部比较器和逻辑的翻转次数不同，功耗有差异。
• 时钟源：用系统时钟还是专用ADC时钟，功耗表现不一样。
• 参考电压：内部参考还是外部参考，建立时间和功耗都不同。
• 工作模式：单次转换、连续转换、扫描模式，功耗依次递增。

这个实验的设计思路就是：固定其他变量，只改变一个参数，观察功耗的变化。比如先固定采样率和分辨率，只改变ADC时钟源，记录功耗；然后固定时钟源，改变采样率，再记录。通过这种“控制变量法”，你能清晰地看到每个参数对功耗的贡献。

2.3 实验的整体架构设计

一个完整的系统功率缩放实验，通常包含以下几个模块：

1. 主控MCU：负责配置时钟、初始化ADC、控制采样流程、通过串口输出数据。
2. ADC模块：可以是MCU内部集成的ADC，也可以是外部的独立ADC芯片。
3. 功率测量点：通常在MCU的供电引脚上串联一个采样电阻，用示波器或功率分析仪测量电压差，从而计算电流和功耗。
4. 上位机：接收串口数据，记录不同配置下的功耗值，方便后续分析。
5. 可调电源：用于改变系统供电电压，观察电压缩放对功耗的影响。

这个架构的关键在于测量点的选择。如果你只测MCU的VDD引脚，那得到的是MCU的总功耗，包括内核、外设、IO。如果你想单独测ADC的功耗，就需要找到ADC的独立供电引脚（如果有的话），或者通过对比“开ADC”和“关ADC”两种状态下的总功耗来推算。

注意：测量功耗时，采样电阻的阻值选择很关键。太大，会导致供电电压跌落，影响系统正常工作；太小，电压差太小，测量误差大。一般建议选择1Ω到10Ω之间的电阻，具体要看系统的工作电流范围。

2.4 方案选型的考量：为什么用这种架构

你可能会问：为什么不直接用现成的功耗分析仪，而要自己搭测量电路？原因有两个：一是成本，专业的功耗分析仪价格不菲，不是每个实验室都配得起；二是教学目的，自己搭电路能让你更深刻地理解功耗测量的原理和误差来源。

另一个选择是：用MCU内部的温度传感器或者电流监测模块来估算功耗。但这种方法精度有限，而且很多低端MCU根本没有这个功能。所以，串联采样电阻+示波器仍然是最经典、最可靠的方案。

在ADC的选择上，如果你用的是TI的MCU（比如MSP430系列），它内部集成的ADC通常支持多种功耗模式，非常适合做这个实验。如果你用的是外部ADC芯片（比如ADS1115），那你就需要额外考虑I2C或SPI通信的功耗。

3. 核心细节解析与实操要点

3.1 时钟配置：功耗的第一道阀门

时钟是数字系统的“心跳”，也是功耗的主要来源之一。在TI的MCU里，时钟系统通常包括以下几个部分：

• 主时钟源：可以是内部DCO（数字控制振荡器）、外部晶振、或者外部时钟输入。
• 时钟分频器：把主时钟分频后供给不同外设。
• 外设时钟使能：每个外设都有独立的时钟使能位，不用的时候可以关掉。

做功率缩放实验时，时钟配置的策略是：在满足ADC采样率要求的前提下，尽量降低系统主频，并关闭不用的外设时钟。

举个例子：假设你的ADC需要1ksps的采样率，每次转换需要13个ADC时钟周期。那么ADC时钟至少需要13kHz。如果你用1MHz的主时钟，经过64分频后得到15.625kHz，刚好满足要求。但如果你用8MHz的主时钟，就需要512分频才能得到15.625kHz。虽然最终ADC时钟一样，但主时钟从1MHz升到8MHz，内核和总线的动态功耗会增加很多。

所以，降低主频是降低系统功耗最直接的手段之一。但要注意，主频降低后，CPU处理数据的速度也会变慢，如果你的系统还需要做其他运算，就要权衡了。

3.2 ADC采样率与功耗的关系

ADC的采样率直接决定了内部开关电容阵列的充放电频率。采样率越高，电容充放电越频繁，动态功耗越大。这个关系基本上是线性的：采样率翻倍，ADC的动态功耗也大致翻倍。

但这里有一个坑：很多MCU的ADC在连续转换模式下，即使你不需要那么高的采样率，它也会以设定的速率持续转换。这时候，如果你把采样率设得很高，但实际只偶尔读一次数据，那大部分功耗都是浪费的。

正确的做法是：用单次转换模式，需要采样的时候才启动一次转换，转换完成后ADC自动进入低功耗状态。这样，ADC的平均功耗就取决于你实际的采样频率，而不是设定的最大采样率。

实测数据（基于某款常见低功耗MCU）：

从表中可以看出，从连续转换200ksps切换到单次转换1ksps，ADC电流从1.2mA降到了0.02mA，降了60倍。而系统总电流从3.5mA降到了0.9mA，降了约4倍。这说明ADC的功耗在系统总功耗中占比很大，优化ADC的工作模式能带来显著的收益。

3.3 分辨率与功耗的取舍

ADC的分辨率越高，内部比较器和逻辑的翻转次数越多，功耗也越大。但分辨率对功耗的影响通常没有采样率那么显著。比如，从12位降到10位，功耗可能只降低10%到20%。

不过，在某些应用场景下，降低分辨率是值得的。比如你只需要监测电池电压，8位分辨率就足够了，没必要用12位。这时候降低分辨率，既能减少功耗，又能缩短转换时间。

实操心得：在配置ADC时，先问自己“我真的需要这么高的分辨率吗？”很多时候，过采样和平均滤波可以用低分辨率ADC达到高分辨率的效果，而且功耗更低。

3.4 参考电压的选择：内部还是外部

ADC的参考电压决定了输入信号的测量范围。参考电压的来源有两种：内部参考和外部参考。

• 内部参考：集成在MCU内部，使用方便，但功耗通常较高，而且建立时间较长。
• 外部参考：需要外接基准电压芯片，增加了硬件成本，但功耗可以做得更低，精度也更好。

在低功耗应用中，如果对精度要求不高，可以考虑用电源电压作为参考（比如VDD/2），这样就不需要额外的参考电压源，功耗最低。但缺点是，电源电压波动会直接影响测量精度。

实测下来，某款MCU的内部参考电压模块工作电流约为200μA，而关闭内部参考、改用VDD作为参考时，这部分功耗直接降为0。对于电池供电的设备来说，这200μA可能就是几天续航的差距。

3.5 工作模式切换：主动、空闲、休眠

除了ADC本身的配置，系统的工作模式对功耗影响更大。大多数低功耗MCU都支持多种工作模式：

• 主动模式：CPU运行，所有外设可用，功耗最高。
• 空闲模式：CPU停止，外设继续运行，功耗中等。
• 休眠模式：CPU和外设都停止，只保留少量唤醒源，功耗最低。

在ADC采样应用中，典型的低功耗流程是：

1. 系统处于休眠模式，功耗极低。
2. 定时器到期，唤醒系统。
3. 系统进入主动模式，启动ADC转换。
4. 转换完成，读取数据，处理数据。
5. 处理完毕，系统重新进入休眠模式。

这样，系统的平均功耗就取决于休眠电流和主动模式电流的时间加权平均。如果采样间隔很长（比如每秒一次），那平均功耗几乎就等于休眠电流。

注意：从休眠模式唤醒需要时间，ADC启动也需要时间。如果采样间隔太短，系统还没来得及进入休眠就被唤醒了，那低功耗模式就失去了意义。所以，采样间隔和唤醒时间要匹配。

4. 完整实操流程与核心环节实现

4.1 硬件准备与测量电路搭建

先列一下这个实验需要的硬件：

• 一块支持低功耗模式的MCU开发板（比如MSP430系列或STM32L系列）
• 一个可调直流电源（或者电池+稳压模块）
• 一个高精度采样电阻（1Ω到10Ω，精度1%以上）
• 一台示波器（带差分探头最好，没有的话用普通探头也行）
• 一个USB转串口模块（用于上位机通信）
• 若干杜邦线和面包板

测量电路的搭建步骤如下：

1. 将可调电源的输出电压设为MCU的标准工作电压（比如3.3V）。
2. 在电源输出和MCU的VDD引脚之间串联采样电阻R_sense。
3. 用示波器的两个通道分别测量R_sense两端的电压。
4. 根据欧姆定律计算电流：I = (V1 - V2) / R_sense。
5. 系统功耗：P = V_MCU × I，其中V_MCU是MCU实际得到的电压（V2）。

如果你用的是差分探头，可以直接测R_sense两端的电压差，更方便。如果没有差分探头，就用两个普通探头分别测两端，然后在示波器里做数学运算（CH1 - CH2）。

实操心得：采样电阻要选温度系数小的，否则电流变化导致电阻发热，阻值漂移，测量就不准了。金属膜电阻比碳膜电阻好，精度选1%或更高。

4.2 软件配置：从时钟到ADC的完整初始化

下面以某款低功耗MCU为例，给出关键的配置代码。不同MCU的寄存器名称可能不同，但思路是一样的。

// 1. 配置时钟系统 // 选择内部DCO作为主时钟，频率设为1MHz // 关闭外部晶振，节省功耗 void Clock_Init(void) { // 设置DCO频率为1MHz BCSCTL1 = CALBC1_1MHZ; DCOCTL = CALDCO_1MHZ; // 选择DCO作为MCLK和SMCLK的时钟源 BCSCTL2 = SELM_0 | DIVM_0 | SELS | DIVS_0; // 关闭不用的外设时钟 // 只保留ADC和定时器所需的时钟 } // 2. 配置ADC // 使用单次转换模式，12位分辨率 // 参考电压选择VDD void ADC_Init(void) { // 关闭ADC，配置期间不工作 ADC10CTL0 &= ~ENC; // 配置ADC控制寄存器 // 参考电压选择VDD，采样保持时间设为最长 ADC10CTL0 = SREF_0 | ADC10SHT_3 | ADC10ON; // 选择输入通道，设置采样率 // 时钟源选择SMCLK，分频系数根据采样率计算 ADC10CTL1 = INCH_0 | SHS_0 | ADC10DIV_7 | ADC10SSEL_3 | CONSEQ_0; // 使能ADC中断 ADC10CTL0 |= ADC10IE; } // 3. 配置定时器，用于周期性唤醒 // 定时器周期决定采样间隔 void Timer_Init(void) { // 设置定时器周期为1秒 // 具体寄存器配置根据MCU型号调整 TACCR0 = 32768 - 1; // 假设使用32.768kHz晶振 TACTL = TASSEL_1 | MC_1 | TACLR; TACCTL0 = CCIE; // 使能定时器中断 } // 4. 主循环 void main(void) { WDTCTL = WDTPW | WDTHOLD; // 关闭看门狗 Clock_Init(); ADC_Init(); Timer_Init(); __enable_interrupt(); // 使能全局中断 while(1) { // 进入低功耗模式，等待定时器唤醒 __bis_SR_register(LPM3_bits | GIE); // 被唤醒后，启动ADC转换 ADC10CTL0 |= ENC | ADC10SC; // 等待转换完成 while(ADC10CTL1 & BUSY); // 读取转换结果 unsigned int result = ADC10MEM; // 处理数据，通过串口发送 UART_Send(result); // 重新进入低功耗模式 } } // 5. 定时器中断服务程序 #pragma vector=TIMER0_A0_VECTOR __interrupt void Timer_A(void) { // 退出低功耗模式 __bic_SR_register_on_exit(LPM3_bits); }

这段代码的核心逻辑是：系统大部分时间处于LPM3低功耗模式，定时器每秒唤醒一次，唤醒后启动一次ADC转换，转换完成后读取数据并发送，然后重新进入低功耗模式。

4.3 功耗测量与数据记录

软件跑起来之后，就可以开始测量功耗了。测量步骤如下：

1. 把示波器调到“滚动模式”或者“长存储模式”，因为功耗变化是周期性的，周期可能是1秒甚至更长。
2. 观察采样电阻两端的电压波形。你会看到：大部分时间电压差很小（休眠状态），每隔1秒出现一个短暂的脉冲（唤醒+ADC转换）。
3. 用示波器的“平均电压”功能，测量一个完整周期内的平均电压差。
4. 计算平均电流：I_avg = V_avg / R_sense。
5. 计算平均功耗：P_avg = V_MCU × I_avg。

为了得到更准确的数据，建议记录至少10个周期的波形，取平均值。同时，记录下当前的配置参数（主频、采样率、分辨率、参考电压、工作模式），方便后续对比。

下面是一个实测数据记录表的示例：

从表中可以清晰地看到：从配置1到配置6，功耗降低了70倍。其中贡献最大的是工作模式的切换（从连续转换到休眠+唤醒），其次是采样率的降低和参考电压的切换。

4.4 电压缩放实验：改变供电电压

除了改变软件配置，你还可以改变系统的供电电压，观察功耗的变化。大多数低功耗MCU支持较宽的电压范围，比如1.8V到3.6V。

实验步骤：

1. 把可调电源的电压从3.3V逐步降到1.8V，每次降0.3V。
2. 在每个电压点，记录系统的平均电流。
3. 计算功耗：P = V × I。
4. 观察功耗随电压的变化趋势。

你会发现一个有趣的现象：随着电压降低，电流可能略有增加（因为MCU内部稳压器需要维持核心电压），但总功耗仍然是下降的。这是因为动态功耗和电压的平方成正比，电压降低带来的功耗收益大于电流增加带来的损失。

但要注意：电压不能降得太低，否则MCU可能无法正常工作，或者ADC的精度会严重下降。一般建议不要低于MCU数据手册规定的最低工作电压。

实操心得：在做电压缩放实验时，最好同时监测ADC的转换结果。如果发现转换结果明显偏离预期，说明电压已经低到影响ADC正常工作了，这时候就应该停止继续降压。

5. 常见问题与排查技巧实录

5.1 功耗测量值忽高忽低，不稳定

这是最常见的问题。可能的原因和排查方法如下：

我踩过的一个坑是：调试器没有拔掉。很多开发板在连接调试器时，调试器会给MCU供电，或者MCU会进入调试模式，功耗比正常运行高很多。所以，测量功耗时一定要把调试器拔掉，或者确保调试器不供电。

另一个坑是：GPIO引脚悬空。悬空的GPIO引脚会导致输入级电路振荡，增加功耗。正确的做法是：把不用的GPIO配置为输出低电平，或者使能内部上拉/下拉电阻。

5.2 ADC转换结果不准，跳动大

ADC的精度受很多因素影响，常见的问题包括：

• 参考电压不稳定：如果用VDD作为参考，而VDD有纹波，那转换结果就会跳动。解决方法是加滤波电容，或者改用内部参考。
• 采样保持时间不够：如果输入信号的源阻抗较高，采样保持电容可能充不满电。解决方法是延长采样保持时间，或者在输入端加缓冲器。
• 地线干扰：模拟地和数字地没有分开，数字信号的噪声会耦合到模拟部分。解决方法是使用星形接地，或者在ADC输入端加RC滤波。
• 时钟太快：ADC时钟超过数据手册规定的最大值，会导致转换错误。解决方法是降低ADC时钟频率。

实操心得：在低功耗应用中，ADC的采样保持时间通常设得比较长，因为低功耗模式下时钟频率低，采样保持电容的充电速度慢。如果你发现转换结果总是偏小，可以试试延长采样保持时间。

5.3 系统无法从休眠模式唤醒

这个问题通常和中断配置有关。排查步骤：

1. 确认唤醒源的中断使能位已经置位。
2. 确认全局中断已经使能（__enable_interrupt()）。
3. 确认进入低功耗模式时，没有屏蔽中断。
4. 检查唤醒源的标志位是否被正确清除。

有一个容易忽略的点：某些MCU在进入低功耗模式后，会自动关闭某些时钟。如果你的唤醒源依赖这些时钟，那就无法唤醒。比如，如果你用定时器作为唤醒源，但进入低功耗模式后定时器时钟被关闭了，那定时器就不会产生中断。

解决方法是：查阅数据手册，确认所选的低功耗模式下，哪些时钟仍然运行。通常LPM3模式下，ACLK（辅助时钟）仍然运行，所以用ACLK驱动的定时器可以作为唤醒源。

5.4 功耗降不下来，比预期高很多

如果你已经按照低功耗的最佳实践配置了系统，但功耗仍然偏高，可以按照以下清单逐项排查：

• [ ] 调试器是否已断开？
• [ ] 未使用的GPIO是否已配置为输出低电平或使能上下拉？
• [ ] 未使用的外设时钟是否已关闭？
• [ ] ADC是否在不需要时进入了低功耗状态？
• [ ] 内部参考电压是否在不需要时关闭？
• [ ] 电源管理模块是否配置为低功耗模式？
• [ ] 是否有周期性唤醒源在不必要地唤醒系统？
• [ ] 外部电路（如上拉电阻、LED）是否消耗了额外电流？

我遇到过的一个案例是：某同学的系统功耗始终在1mA以上，排查了半天，最后发现是开发板上的电源指示灯LED没有关掉。一个LED的电流可能就是几个毫安，比MCU本身的功耗还大。所以，测量功耗时，要把开发板上所有不必要的负载都去掉。

5.5 常见问题速查表

6. 从实验到产品：功率缩放的工程化思考

6.1 实验环境和真实产品的差距

做完这个实验，你可能会觉得“低功耗不过如此”。但真实产品中的功耗优化，比实验复杂得多。差距主要体现在：

• 工作负载更复杂：实验里ADC只做采样，真实产品里ADC采样只是系统的一部分，还有通信、运算、存储等任务。
• 唤醒源更多：实验里只有一个定时器唤醒源，真实产品可能有按键、传感器中断、通信中断等多个唤醒源。
• 功耗预算更紧：实验里你可以慢慢调，真实产品有明确的续航指标，必须在规定时间内完成优化。
• 测量条件更苛刻：实验里你可以用示波器慢慢测，真实产品可能需要在不同温度、不同电压下都能稳定工作。

所以，这个实验的价值不在于让你掌握所有低功耗技巧，而在于让你建立功耗意识和基本的测量方法。有了这个基础，你在做真实产品时，才知道从哪里入手。

6.2 功耗优化的优先级排序

根据我的经验，功耗优化的收益从大到小排序是：

1. 工作模式切换：从连续运行改为间歇运行，收益最大，通常能降一个数量级。
2. 时钟频率降低：在满足性能的前提下降低主频，收益次之。
3. 供电电压降低：受限于MCU最低工作电压，收益有限但值得做。
4. 外设时钟关闭：关闭不用的外设，收益较小但容易实现。
5. ADC参数优化：降低采样率、分辨率、改用单次转换，收益中等。
6. GPIO配置优化：消除悬空引脚和上拉电阻的漏电流，收益小但容易忽略。

在实际项目中，我通常先做第1项和第2项，这两项做完，功耗基本就能降一个数量级。然后再根据实际情况，逐步优化后面的项。

6.3 一个容易被忽略的细节：唤醒时间

低功耗设计里有一个隐藏的成本：唤醒时间。从休眠模式唤醒，MCU需要时间稳定时钟、启动ADC、建立参考电压。这段时间虽然短，但如果唤醒频繁，累积起来也会消耗不少能量。

举个例子：假设每次唤醒需要100μs，唤醒期间电流为1mA。如果每秒唤醒一次，那唤醒消耗的平均电流是：

I_wakeup_avg = 1mA × 100μs / 1s = 0.1μA

看起来很小，但如果每秒唤醒100次，那就是10μA，已经和休眠电流相当了。所以，在满足响应速度的前提下，尽量降低唤醒频率。

另一个技巧是：用硬件自动触发ADC转换，而不是用CPU唤醒后再启动ADC。有些MCU支持定时器直接触发ADC，这样CPU可以一直休眠，直到ADC转换完成后再唤醒。这样能进一步降低功耗。

6.4 从实验数据到产品决策

实验测出来的数据，最终要服务于产品决策。比如：

• 如果实验发现休眠电流是0.05mA，而产品要求续航一年，电池容量是200mAh，那理论续航是：

  200mAh / 0.05mA = 4000小时 ≈ 166天

  这还不够一年，那就需要进一步优化，或者换更大容量的电池。

• 如果实验发现ADC在200ksps时的功耗是1.2mA，而产品只需要1ksps的采样率，那就果断用单次转换模式，把ADC功耗降到最低。

• 如果实验发现内部参考电压的功耗是200μA，而产品对精度要求不高，那就改用VDD作为参考，省掉这200μA。

这些决策，都需要你对自己的系统功耗有清晰的了解。而这个实验，就是帮你建立这种了解的最好方式。

我个人在实际操作中的体会是：功耗优化没有捷径，就是不断地测量、调整、再测量。每一次调整，都要有明确的目的和预期，然后通过测量来验证。不要凭感觉去猜，数据会告诉你真相。另外，低功耗设计是一个系统工程，不要只盯着MCU本身，外围电路的功耗往往才是大头。把整个系统的功耗都纳入考量，才能做出真正低功耗的产品。