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Scan Chain设计与实现

一、扫描链概述

1.1 什么是扫描链

扫描链（Scan Chain）是DFT中最基础也是最常用的技术之一。它通过将芯片内部的触发器串联成一个或多个移位寄存器链，使得测试向量可以串行输入，测试响应可以串行输出，从而实现对芯片内部状态的可控性和可观测性。

1.2 扫描链的优势

┌─────────────────────────────────────────────────────────────────┐ │ 扫描链的优势 │ ├─────────────────────────────────────────────────────────────────┤ │ │ │ 优势 │ 说明 │ 实际应用 │ │ ──────────────── │ ───────────────────── │ ──────────────── │ │ 高可控性 │ 可以设置任意内部状态 │ 初始化测试 │ │ 高可观测性 │ 可以读取任意内部状态 │ 捕获测试响应 │ │ 自动化程度高 │ A